1. Главная
  2. Оборудование
  3. Тестирование
  4. ATE-системы

Semiconductor ATE · Оборудование б/у

ATE-системы для тестирования микросхем б/у

Подбираем автоматические тестовые системы по DUT, измерительным ресурсам и существующей оснастке. Сверяем digital, mixed-signal, analog, RF, power или memory application, pin count и data rate, voltage/current ranges, timing, число sites, test program, DIB/load board либо probe card, handler/prober interface и требуемое время теста.

По каждой системе уточняем mainframe, test head, instrument cards и hardware revisions, controller/workstation, cooling, manipulator и docking, кабели, software release, options и лицензии. На поставляемое оборудование предоставляется гарантия 12 месяцев; диагностику, ремонт и обслуживание выполняет наша инженерная команда.

Смотреть оборудованиеПолучить цену в WhatsApp
Advantest T2000 б/у — тестовая система для микросхем
ATE выбирают по установленным instruments, а не только по названию платформыDUT · PINS · DIGITAL / ANALOG / RF / POWER · DIB · SOFTWARE · TEST CELL
01 / ПРИМЕНЕНИЕWafer sort, characterization и final test
02 / РЕСУРСЫDigital, analog, mixed-signal, RF, DPS и PMU
03 / ИНТЕРФЕЙСTest head, DIB/load board, prober или handler
04 / ПОДДЕРЖКА12 месяцев гарантии и собственная инженерная команда

Доступные системы

ATE из текущего каталога

Наличие, год, серийный номер, chassis и test-head configuration, installed instruments, channel count, controller, software/licenses, interface hardware и формат проверки подтверждаются на дату запроса.

Если нужной системы нет в каталоге, укажите Advantest, Teradyne, Cohu/LTX-Credence, Chroma, SPEA либо другой бренд, model/family, application, instruments и срок закупки.

Отправить параметры

Тип измерительной задачи

Для каких тестов подбирается ATE

Одна платформа может поддерживать несколько классов устройств, но фактические возможности определяются instruments, pin electronics, software и interface hardware конкретной конфигурации.

01 / DIGITAL & MIXED

Digital и Mixed-Signal SoC

Для MCU, ASIC, application processors, automotive IC, consumer и communication devices.

  • Digital pins, data rate, timing и pattern memory
  • DPS/PMU, analog capture/generation и DSP
  • Multisite wafer sort и final test
02 / ANALOG · POWER · RF

Analog, power и RF

Для PMIC, power semiconductors, RF front-end, sensors, automotive analog и mixed-signal products.

  • Voltage/current ranges, accuracy и noise
  • RF frequency/bandwidth и calibration path
  • High-current resources и thermal conditions
03 / MEMORY & SPECIAL

Memory и специализированные системы

Для DRAM, NAND, flash, image sensors, display drivers и application-specific test.

  • Memory pattern resources и device interface
  • High parallelism и production throughput
  • Dedicated instruments, options и software
СВЯЗАННЫЕ РАЗДЕЛЫ

Для wafer sort ATE подключается к зондовой станции или Wafer Prober; в final test — к тестовому хендлеру. Общая архитектура размещена в разделе оборудования для тестирования.

Совместимость с вашей программой

Что определяет конфигурацию ATE-системы

Модель mainframe не отвечает на вопрос о запуске продукта. Для подбора нужен ресурсный лист теста и точное описание интерфейса между DUT, оснасткой и tester.

  1. DUT и этап тестаDevice family, wafer sort/final test/characterization, package, pin count, pin map, voltage domains, power dissipation, temperature и quality requirements.
  2. Digital resourcesChannel count, data rate, timing accuracy/resolution, voltage levels, drive/compare capability, pattern memory, scan requirements и protocol options.
  3. Analog и mixed-signalADC/DAC test, waveform generation/capture, sample rate, bandwidth, resolution, DSP, audio/video и required measurement accuracy.
  4. Power и parametricDPS/VI/PMU channels, voltage/current ranges, clamps, high-current delivery, settling, leakage, Kelvin sensing и per-site resources.
  5. RF resourcesFrequency range, source/measure paths, bandwidth, port count, calibration, switching, DIB losses и requirements for RF production test.
  6. ParallelismNumber of sites, resources per site, pin sharing, multisite efficiency, test time, index time, throughput target и data logging.
  7. Interface hardwareTest head, DIB/load board, probe-card interface, sockets/contactors, pogo tower, manipulator/docking, cables, handler/prober handshake и safety loop.
  8. Software и IPOperating system, tester software release, licenses/options, test program, libraries, patterns, calibration data, source access и migration constraints.

Комплектность б/у системы

Что критично проверить до покупки

ATE одной серии может отличаться по десяткам instrument cards и ревизий. Неполный test head, неподходящее ПО или отсутствующее охлаждение способны сделать дешёвый mainframe непригодным для запуска.

01 · CONFIGURATION

Chassis и instruments

Mainframe, slots, power supplies, digital pin cards, DPS/PMU, analog/mixed-signal/RF instruments, part numbers, quantities, revisions и calibration status.

02 · TEST HEAD

Head и device interface

Test head, cables, interface boards, DIB/load-board support, pogo tower, socket/contactor or probe interface, manipulator и docking hardware.

03 · CONTROL

Controller и software

System controller/workstation, OS image, tester software release, licenses, option keys, drivers, calibration tools, backups и доступная документация.

04 · FACILITY

Охлаждение и инфраструктура

Power input, transformer/PDU, air/liquid cooling, chiller/heat exchanger, CDA, exhaust, network, UPS, safety circuits, footprint и floor loading.

Для расширения существующего парка пришлите platform/model, installed software release, system configuration report, нужные instrument part numbers/revisions, test-head interface, DIB/program и целевую application.

Проверка до поставки

Как оценивается ATE-система б/у

  1. ИдентификацияModel/family, serial numbers, chassis and head IDs, год при наличии данных, местонахождение, актуальные фото и последняя известная application.
  2. ИнвентаризацияВсе cards/modules с part numbers и revisions, controller, test head, cables, cooling, manipulator/docking, interface hardware, software и периферия.
  3. Power-onStartup mainframe/controller, power rails, system communication, cooling, interlocks, test-head connection, alarms, logs и diagnostic environment.
  4. Self-testДоступные system diagnostics, instrument self-tests, channel status, calibration dates/errors и фиксация неисправностей по согласованной процедуре.
  5. Software checkOS и tester release, recognized hardware, licenses/options, system configuration, drivers, backup availability и условия передачи test assets.
  6. DUT testПолный functional test требует совместимых DIB/load board или probe card, handler/prober, test program, DUT и согласованных acceptance limits.

Интеграция и поставка

Конфигурация фиксируется до демонтажа системы

ATE состоит из связанных chassis, instruments, test head, controller, cooling и interface hardware. Поэтому маркировка кабелей и точный inventory важны не меньше, чем состояние mainframe.

01 / INVENTORY

Фиксация конфигурации

Chassis, cards, revisions, test head, cables, controller, manipulator/docking, cooling, interface boards, accessories и software inventory.

02 / TEST CELL

Связь с prober или handler

Mechanical docking, load board/DIB/probe interface, signal and power cables, handshake, site mapping, safety loop и communication settings.

03 / TRANSPORT

Раздельная упаковка модулей

Test head, instruments, cables, controller и precision interfaces маркируются и защищаются; chassis и manipulator фиксируются для перевозки.

04 / ЭКСПОРТ

Россия и ЕАЭС

Возможность поставки подтверждается до заказа с учётом производителя, модели, конфигурации, происхождения, конечного пользователя и применения.

Запрос оборудования

Получить предложение по ATE-системе

Укажите platform/model либо DUT и измерительные ресурсы. Мы проверим доступные системы и сообщим фактическую конфигурацию, комплектность, состояние, формат проверки, цену и срок поставки.

Получить цену в WhatsApp

Кнопка сформирует письмо на адрес smt-sales3@gdxinling.cn. Наличие, конфигурация, возможность поставки и срок резерва подтверждаются в коммерческом предложении.

До оформления заказа

Вопросы об ATE-системах

Краткие ответы о конфигурации tester, instruments, test head, DIB, программном обеспечении, проверке и поставке оборудования б/у.

Состав может включать mainframe, controller, test head, instruments, cooling, manipulator/docking, cables, interface hardware, software и лицензии. Всё фиксируется по конкретной системе.

Нужны DUT, pins, digital/analog/RF/power ranges, timing, sites, temperature, test program, DIB/probe card и handler/prober interface.

Это зависит от platform generation, instruments, revisions, software, licenses и DIB interface. Совместимость проверяется до выбора конфигурации.

Не всегда. Эти платы и sockets/contactors зависят от конкретного DUT, pin map, sites и test head, поэтому согласуются отдельно.

Именно cards/modules определяют channel count, speed, voltage/current, analog/RF capability и parallelism конкретного tester.

Проводятся inventory, power-on, проверка cooling и test-head communication, system diagnostics, self-tests instruments и software configuration.

Да, если известны part number, revision, target chassis, software и требования к calibration. Совместимость подтверждается по запросу.

Фактическая конфигурация фиксируется в предложении. На поставляемое оборудование предоставляются гарантия 12 месяцев и инженерная поддержка.

Запросите ATE по модели или тестовой задаче

Пришлите platform и configuration report либо укажите DUT, pins, digital/analog/RF/power resources, sites, software, interface hardware и город назначения.

Заполнить запросWhatsApp