Advantest T2000: электрический контроль полупроводниковых микросхем
Advantest T2000 — модульная автоматическая тестовая система для проверки электрических параметров и работоспособности микросхем. Она подаёт питание и тестовые сигналы на проверяемое устройство, измеряет его отклик и сравнивает результаты с допусками, заданными в программе испытаний. Систему используют при разработке и серийном производстве полупроводниковых приборов.
В зависимости от установленных модулей T2000 подходит для систем на кристалле (SoC), микроконтроллеров, ПЛИС, микросхем управления питанием и аналого-цифровых устройств. При наличии соответствующего интерфейса тестер работает с кристаллами на пластине или с микросхемами в корпусе. Для автоматической подачи корпусированных изделий применяют совместимые тестовые хендлеры.
На вторичном рынке T2000 имеет смысл рассматривать прежде всего под конкретную номенклатуру изделий. Для предприятия, уже работающего с этой платформой, подходящая комплектация может упростить расширение тестового участка. При этом перенос существующей программы требует проверки совместимости аппаратных модулей, программного обеспечения и контактной оснастки.
Два тестера с обозначением T2000 могут заметно отличаться по возможностям. При выборе важны состав и ревизии плат, количество каналов, тип тестовой головки, охлаждение и доступные программные лицензии. Для оценки оборудования б/у также нужны результаты диагностики и сведения о калибровке: внешний вид установки не показывает состояние её измерительных ресурсов.
Преимущества платформы
Модульная архитектура позволяет подобрать цифровые, аналоговые и силовые ресурсы под требования проверяемой микросхемы.
Параллельное тестирование нескольких изделий помогает сократить затраты на контроль при подходящей конфигурации и программе.
Средства разработки RDK и автономный эмулятор поддерживают подготовку и отладку тестовых программ.
Технические характеристики и варианты оснащения
| Параметр | Характеристика |
|---|
| Производитель / модель | Advantest / T2000 |
| Тип оборудования | Модульная система автоматического тестирования микросхем (ATE) |
| Масштабируемость платформы | От систем с 13 слотами и воздушным охлаждением до систем с 52 слотами и жидкостным охлаждением |
| Максимальное число цифровых каналов платформы | До 8 192; фактическое количество зависит от исполнения и установленных модулей |
| Цифровой модуль 500MDM | До 128 каналов ввода-вывода; скорость до 500 Мбит/с |
| Цифровой модуль 1.6GDME | До 256 каналов ввода-вывода; скорость до 1,6 Гбит/с |
| Высокоскоростной модуль 8GDM | До 96 каналов ввода-вывода; скорость до 8 Гбит/с |
| Модуль питания DPS32A | 32 канала; максимальный ток до 1 А на канал |
| Количество одновременно проверяемых изделий | Определяется ресурсами тестера, интерфейсной платой и программой испытаний |
Указаны характеристики платформы и отдельных доступных модулей. Перечисленные модули не являются обязательной комплектацией каждой установки. Состав конкретного тестера б/у необходимо сверять со спецификацией предложения.
Для подбора Advantest T2000 отправьте обозначение микросхемы, тип корпуса, требования к цифровым сигналам и питанию, а также желаемое количество параллельно проверяемых изделий. Если программа испытаний уже разработана, укажите версию ПО и используемые модули — это позволит точнее оценить подходящую комплектацию.